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SEMISHARE は、国内1,000社以上の顧客にサービスを提供する、世界をリードするウェーハプローブプラットフォームメーカーです。
ホールテストは、各種半導体材料の高精度測定のための統合ソフトウェアシステムです
レーザー修理システム - 超高テスト精度と超高速修理スピード
ユーザーにより大きな価値を創造する－SEMISHARE プロフェッショナルテストサービス（PTS）
プローブステーションのアクセサリをさまざまに組み合わせることで、より精密な測定要求を実現できます。
我々は、精密機器からウェーハ表面へより安定した信号を伝送し、より正確で信頼性の高い測定結果を実現し、お客様が技術目標を迅速に達成できるよう取り組んでいます。
UPStartのモジュール設計により、複数のアクセサリを追加して性能を向上させることが可能で、後からの拡張やアップグレードもサポートしています。
SEMISHAREは、中国で台頭する半導体テスト装置のモデル企業として、現在世界で最も先進的な...
VシリーズはXシリーズの機能と操作性の優位性を継承しながら、 ローダー搭載をサポートし全自動テスト機能を備えています。 設置面積を大幅に削減するため、寸法と重量をXシリーズ比で約半減。 超高速動作・高精度測定・バッチテストを全て実現した機種です。
ナノマイクロデバイスの科学研究・分析、抜き取り検査などに適しています
高低温度非真空環境下での低温試験、-100℃まで対応可能
FAシリーズプローブ台は、故障解析実験室向けに特別設計された測定装置です。光学特性・レーザー特性を備え、装置構造が安定し、システム性能に優れ、人間工学的設計で操作が容易です。多機能アップグレードをサポートし、製品機能が豊富かつ完備しています。
TEGシリーズパネルレーザープローブ装置は、主にLCD画面のTEG回路分析、電気パラメータテスト、および完全自動化テストアプリケーションを実現する装置です。本製品は迅速かつ正確に製品性能を分析・判断でき、製品の欠陥を修復することで、企業生産の歩留まりと経済的利益を大幅に向上させます。
各種デバイスのウェハテスト，ウェハおよびその他のウェハに対して，RFテストやI-V特性・C-V特性・，光信号・RF・1/fノイズなどの，特性分析を実施
I-V/C-Vテスト、RF/mmWテスト、高電力・高電流テスト、MEMS、光デバイステスト、ウェハレベルの故障解析、ホールテストなどに広く対応しています。
LD/LED/PDの光強度/波長テスト，電極/PADテスト，PCB/パッケージデバイステスト，材料/デバイスのIV/CV特性試験，デバイス高周波特性テスト（300GHzまでの周波数対応），RFテストなどに対応
Xシリーズは、各種先進チップの性能テストに特化した統合型高効率半自動ウェハプローブプラットフォームです。
SEMISHARE CGX半自動真空高低温度プローブステーションは、研究および特殊生産用途向けに設計されています。真空環境下での単一ウェハに対する迅速かつ高精度なテストを可能にし、温度範囲は液体窒素使用時77K～450K、液体ヘリウム使用時10K～450Kに対応しています。
CGシリーズは国内初の独自開発による高低温度真空プローバで、超高真空技術・自動制御・レーザーシミュレーションにおいてSEMISHAREの独自技術優位性を発揮し、長年蓄積した革新的な技術の結晶です。
