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테스트 솔루션

개요

개요

혁신 가속화와 지속적인 도전에 대응하기

더 높은 성능의 테스트 및 측정 장비가 필요한 도전적인 반도체 시대

5G 통신, 항공 우주, 무인 인공지능, 빅데이터 등의 과학기술 발전으로핵심 기술 경계가 지속적으로 혁신과 돌파를 이루며, 반도체를 중심으로 한 제품 기술의 진화 속도가 빨라지고 있습니다. 이에 따라 더 높은 성능 요구사항을 충족시키기 위해 웨이퍼 레벨 테스트도 점점 더 복잡해지고 있으며, 연구실부터 파운드리까지 반도체 연구 개발 전 공정에 걸쳐
제품 생산 속도를 가속화하는 것이 중요해졌습니다. 이에 정확하고 신속한 웨이퍼 테스트/측정을 위한 전문적인 측정 솔루션이 필수적으로 요구됩니다.

기술 변환을 위한 제품 적용

지난 몇 년간 지속적인 기술 혁신을 통해, 우리는 고객과 함께 반도체 공정의 핵심 기술에서 발생하는 도전 과제들을 해결해 왔습니다. 반도체 개발 및 생산 공정 최적화와 성능 향상을 위해 고객과 협력하며, 프로버 분야에서는 단순한 프로버 장비 제공을 넘어 더욱 진보된 웨이퍼 프로브 기술을 제공하고 있습니다. 우리는 웨이퍼 표면부터 정밀 계측기까지 더욱 안정적인 신호 전달을 구현하고, 더 정확한 테스트 및 측정 데이터를 확보함으로써 궁극적으로 고객이 기술 목표를 신속하게 달성할 수 있도록 지원합니다.

  • 완전 자동 웨이퍼 테스트 장치 및 방법

    Automatic probe station™ 기술

    특허 유형: 발명 특허 특허 번호: 2023105296913

    자세한 내용
  • 웨이퍼 얼라인먼트 방법 및 관련 장치

    Wafer Alignment™ 기술

    특허 유형: 발명 특허 특허 번호: 2023117981244

    자세한 내용
  • 저온 프로브 테스트 장치

    SpecialConditions™ 기술

    특허 유형: 발명 특허 특허 번호: 2023104358611

    자세한 내용
  • 프로브와 웨이퍼 테스트 포인트 간의 접촉 정확도를 향상시키는 방법 및 장치

    High-accuracy Contact™ 기술

    특허 유형: 발명 특허 특허 번호: 2021108935892

    자세한 내용