테스트 솔루션
반도체 테스트 링크는 주로 웨이퍼 제조 설계 과정의 칩 설계 검증, 웨이퍼 테스트(CP), 그리고 패키징 완제품 테스트(FT)를 포함합니다. 프로브 스테이션은 웨이퍼 가공 후 CP 테스트 링크에서 패키징 공정 전에 사용되며, 웨이퍼 이송 및 위치 조정을 담당합니다. 이를 통해 웨이퍼 표면에서 정밀 기기로 더 안정적인 신호를 전달하고, 웨이퍼 상의 각 칩을 순차적으로 프로브와 접촉시켜 하나씩 테스트하여 더 정확한 데이터 측정을 가능하게 합니다.반도체 테스트 장비에는 테스트 머신과 분리기(separator)가 포함됩니다. 테스트 머신은 모든 테스트 링크에서 사용되며, 각 링크에서는 분리기 또는 프로브 스테이션과 연동하여 작업이 수행됩니다.
우리는 고객의 혁신적인 개념을 실제 결과로 구현하며, 정확하고 신뢰할 수 있는 테스트 및 측정 분석을 실현합니다. 이를 통해 웨이퍼 장치의 성능을 정밀하게 측정하고 분석·판단할 수 있도록 지원합니다. 주요 제공 기술 솔루션으로는 재료/부품의 CV·IV 특성 테스트, LD/PD/LED 광강도 테스트/파장 측정, RF 장치 특성 분석, 실패 분석, 칩 내부 배선/전극/PAD 테스트 등이 포함됩니다.
우리는 고객이 테스트 프로세스를 더욱 최적화할 수 있도록 지원하며, 지속적인 고객 신뢰를 얻을 수 있게 합니다. 수년간의 파트너사 협력 경험을 바탕으로 다양한 기술 노하우를 실제 시장 성공 사례로 구현해왔으며, 이를 통해 점차 더 전문적인 테스트 측정 솔루션을 구축하였습니다.
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