Hall-Effekt-Testsystem

Hall-Effekt-Testsystem

Product Overview

Das Hall-Effekt-Testsystem integriert die hochpräzisen Stromquellen der Keithley-2400/2600-Serie und die Semishare Polaris Hoch-/Tieftemperaturplattform. Es basiert auf dem Van-der-Pauw-Prinzip und dient der hochpräzisen Messung von Halbleitermaterialien, einschließlich der Bestimmung des Ladungsträgertyps (P-Typ / N-Typ), der Ladungsträgerkonzentration, der Beweglichkeit, der Resistivität und des Hall-Koeffizienten. Es ist anwendbar auf Halbleitermaterialien wie Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN und weitere.

Basisinformationen

Produktnummer	HALL	Arbeitsumgebung	Windows98 / ME / 2000 / NT/XP environment
Stromanforderungen	/	Steuerungsmodus	/
Produktabmessungen	/	Gerätegewicht	/

Anwendungsbereich

Das Hall-Effekt-Testsystem ist ein softwareintegriertes System für hochpräzise Messungen verschiedener Halbleitermaterialien.

Technische Merkmale

Produkteigenschaften

● Branchenführende Keithley-Testplattform
● Hochpräzise Stromquellen für präzise Messungen
● Modulares Design für stabile Leistung und einfache Wartung
● Umfangreiche Softwarefunktionen für flexible Bedienung
● Visualisierte Schnittstelle für klare Datenanalyse
● Tests in variablen Hoch-/Tieftemperaturumgebungen für zuverlässige Ergebnisse

Model HALL series
Specification

Brief introduction	This system is integrated with Keithley 2400 / 2600 series high precision source meter and Semishare Polaris high and low temperature platform. It is designed by using The Van Der Pauw Law for high precision measurement of the carrier types of semiconductor materials (P type / N type),Carrier concentration, Mobility ratio, Resistivity, Hall coefficient and other parameters test, Can be applied to various materials such as Si,SiGe,SiC,GaAs, InGaAs,InP,GaN etc.
Software operating system	Under the environment of Windows 98 / ME / 2000 / NT / Xp
	Effective current output range	6nA~100mA
	Effective voltage measurement range	-5~5V
	Carrier concentration(/cm3)	10⁷ – 10²¹
	Mobility (cm2/Vs)	1~10⁷
	Resistivity (Ohm.cm)	10^-4 - 10⁷
	A/B ratio	Ok
	RHD(cm3/C)	Ok
	RHC(cm3/C)	Ok
	RH(cm3/C)	Ok
	Sheet Resistance(Ohm)	Ok
	Temperature	Temperature (k): normal temperature and 77k , two temperature points
		Option: 77k~500k 0. 1 degrees Celsius accuracy, can be set by software
Instrument size and weight	Mainframe size	H: 89mm × W: 213mm × L: 370mm
	Weight	3.21KG
Working environment requirements	0°–50°C, 70%R.H.
Storage environment requirements	–25°C to 65°C
Dimention of the Van der pauw rule terminal converter	200×120×110 mm (W×H×D)
Net weight	7.7KG
Measuring material	All semiconductor films such as Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO (p-type and n-type)
Characteristic
Keithley test platform	Feature-rich software
Ultra-high precision source meter	User friendly UI
Modular design	High and low temperature environment

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